跟踪式三维扫描仪

MetraSCAN 3D 光学CMM扫描仪

    MetraSCAN3D专为获取高质量或高效率的制造和计量专业人士而设计;可在任何生产环境中使用，包括车间震动、部件移动和环境不稳定等环境，同时还能加速3D 测量工作流程;可执行高度精确且可重复的计量级测量和3D 几何表面检测。其标配的AVE功能可实现自动扩展采集体积，只需移动 C-Track，无需额外测量;采用先进的集成摄影测量和缩放算法，可确保对大型部件进行更精确、可重复和无人为错误的测量。

    可选配手持光学坐标测量机(PCMM)HandyPROBE可具备探测功能，完成全面的端到端检测过程;可选配光学摄影测量坐标系统MaxSHOT3DTM，可获得比0.015毫米/米更高的精度水平，实现大型项目和从2到10米的部件的最高测量精度和效率的理想解决方案。